粒子圖像測(cè)速，是一種用多次攝像以記錄流場中粒子的位置，并分析攝得的圖像，從而測(cè)出流動(dòng)速度的方法。其基本原理是在流場中布撒示蹤粒子，并用脈沖激光片光源入射到所測(cè)流場區(qū)域中，通過連續(xù)兩次或多次曝光，粒子的圖像被記錄在底片上或CCD相機(jī)上。采用光學(xué)楊氏條紋法、自相關(guān)法或互相關(guān)法，逐點(diǎn)處理PIV底片或CC 記錄的圖像，獲得流場速度分布。

 

粒子圖像測(cè)速不同分類介紹：

 

1.標(biāo)準(zhǔn)PIV使用單個(gè)CCD或CMOS相機(jī)測(cè)量平面（2D2C）中的兩個(gè)速度分量。

2.立體PIV使用兩個(gè)相機(jī)測(cè)量平面中的三個(gè)速度分量（2D3C）。

3.Volumetric Velocimetry（也稱為TOMO PIV）使用兩個(gè)或更多相機(jī)測(cè)量體空間中的三個(gè)速度分量（3D3C）。

4.高頻TRPIV 受益于CMOS相機(jī)技術(shù)的進(jìn)步，以全分辨率下高達(dá)25600 fps（每秒幀數(shù)）的幀速率獲得高分辨率PIV圖像。

5.測(cè)量流場其他相關(guān)的技術(shù)包括粒子跟蹤測(cè)速（PTV），特征跟蹤和特征PIV。

6.MicroPIV用于晶片科技設(shè)備中的微通道流動(dòng)研究。